ICP光谱法测定钨、锡、钼 金属元素含量测试

日期:2023-09-27 点击:507
一、方法提要
    本法用固体粉末进样装置,Pd为内标,采用双高频火花雾化固体粉末试样,引入ICP光源中,在大色散率光栅摄谱仪上一次摄谱测定化探试样中的W、Sn、Mo,其检出限(Wb/10-6):W1,Sn1,Mo0.5。
    二、标准试样的制备
    人工合成基体的组成(%)为:SiO268,Fe2O34,Al2O316,CaO2,MgO2,K2SO43,Na2CO34,TiO20.5,MnO20.5。在基体中加入光谱纯WO3、SnO2和MoO3,先配制成1号主标准试样再用基体按1+1逐级稀释成一套标准系列的试样,见表1。
                                                                      表1   标准系列试样中各元素的含量(Wb/10-6

 
元素 标准系列
1 2 3 4 5 6 7 8
W,Sn,Mo 10000 5000 2500 1250 625 313 156 78.0
  9 10 11 12 13 14 15 16
W,Sn,Mo 39.0 19.5 9.75 4.88 2.44 1.22 0.61 0.3
    三、仪器及工作条件
    光谱仪:(苏)ДФC-13-2型平面光栅摄谱仪,光栅刻线1200条/mm,色散率0.2Nm/mm,闪耀波长300.0nm。单透镜(F=75mm)照明系统,狭缝宽20µm。
    炮源:ICP-D型。由高频发生器、工作线圈、炬管组成。(1)高频发生器:自激式,3.6千瓦,31±4兆赫。(2)工作线圈和炬管:工作线圈内径25mm,二圈(水冷)。三同心石英炬管,外径20mm,长160mm。(3)光源使用氩气为载气、冷却气和等离子气。
    固体粉末进样装置:固体粉末进样器与GFS-81型双高频火花发生器配用。
    相板及暗室处理:紫外Ⅰ型或Ⅱ型相板。A、B显影液。20℃显影4min,定影至透明后,水洗,干燥。

    各元素分析线及测定范围:见表2。
    测光及工作曲线的绘制:MD-100型快速测微光度计,测量狭缝宽20µm,高18mm,P标尺,以△P-1gC绘制工作曲线。
    其他工作条件:见表3。
表2    各元素分析线及测定范围
 

元素 分析线,nm 测定范围,wB/10-6
W 294.69 1-625
  292.51 156-5000
Sn 317.50 0.6-156
  303.27 78-5000
Mo 319.39 0.3-78
  293.05 9.75-625
  294.66 78-5000
                                                                                                          表3 其他工作条件
 

阳极电压 4.6kV 载气流量 0.74L/min
阳极电流 1A 观测高度 11-12mm
栅极电流 120mA 试样粒度 <0.075mm
冷却气流量 13.3L/min 缓冲剂及内标 碳粉+SiO2+Pd=50+50+0.1
等离子气流量 1.20L/min 曝光时间 10s
    四、分析步骤
    称取200mg试样与100mg缓冲剂在玛瑙钵中加丙酮研磨均匀。取出2份各重100mg混匀的待测试样分别放在粉末时样器中,按上述工作条件进行摄谱分析,取测量的平均值计算结果。
    五、注意事项

    (1)试样粒度必须小于0.075mm,否则测定结果偏低。(2)摄谱时,一定要首先打开冷却水。(3)点火时,需使阳极电压缓慢地升至4.6kV,且阳极电压不宜过高。


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